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差分非線性誤差(DNL)是指ADC實際的量化電平與理論的量化電平之間的差異,這主要由于A/D本身的電路結(jié)構(gòu)和制造工藝等原因,引起在量程中某些點的量化電壓和標準的量化電壓不一致而造成的。DNL引起的失真分量與輸入信號的幅度和非線性出現(xiàn)的位置有關(guān),通常用和理想電平相差的百分比來表示。
積分非線性誤差(INL)是指ADC實際轉(zhuǎn)換特性函數(shù)曲線與理想轉(zhuǎn)換特性直線之間的大偏差,主要是由于A/D模擬前端、采樣保持器及ADC的傳遞函數(shù)的非線性所造成的。理想轉(zhuǎn)換特性直線可以利用小均方算法得到,而INL引起的各階失真分量的幅度隨輸入信號的幅度變化。如果輸入信號每增加1dB,則二階交調(diào)失真分量增加2dB,三階交調(diào)失真分量增加3dB。
互調(diào)失真
當兩個正弦信號、同時輸入ADC時,由于器件的非線性,其輸出頻譜除了含有這兩個頻率的分量之外,還將產(chǎn)生許多失真產(chǎn)物,由此所造成的失真稱為互調(diào)失真(IMD,InterModulationDistortion),其中m+n的數(shù)值表示失真的階數(shù)。在所有的互調(diào)失真中,二階和三階的互調(diào)產(chǎn)物為重要。前者容易通過數(shù)字濾波器濾除,而后者由于與、離得很近而很難濾除。
一般采用二階截獲點和三階截獲點來度量互調(diào)失真。然而,對于ADC,由于其限幅的特性,二階截獲點和三階截獲點并不適用,因此在ADC中也并沒有指定。
在這種情況下,雙音SFDR是適合度量ADC失真程度的指標。
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Keronix 1007 PC Memory Board
Boston Digital B-023 Memory Module
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General Electric CR9503211EAB273 Transformer 440V 60HZ
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