· 觸摸屏/鍵盤控制
· 提供組分濃度，粒度區(qū)別，產品差異等信息
· 從四種特定類型中識別初始分離機制
· 多達50個分離測試點
· 識別過程設計參數(shù)以及質量控制問題
· 數(shù)據(jù)可以Excel形式輸出
· SPECTester比表面測試儀分析速度快-視樣品和應用，10-30分鐘內可完成樣品檢測
產品應用
SPECTester比表面測試儀能夠測定原材料或者半成品樣品的分離度，可用于研究一個材料投入生產之前的屬性，以及生產過程中的實時質量控制。
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固體粉體表面能分析儀比表面測定儀
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